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  • APS100美國(guó)MAS納米粒度儀
    APS100美國(guó)MAS納米粒度儀

    更新時(shí)間：2020-05-08

    型號(hào)：APS100

    瀏覽量：2043

    美國(guó)MAS納米粒度儀，APS 從聲衰減光譜測(cè)量產(chǎn)生PSD數(shù)據(jù)，不需要稀釋樣品。APS還測(cè)量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、pH、電導(dǎo)率和溫度。
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  • Zeta ZA500型美國(guó)MAS ZetaAcoustic ZA500電位分析儀
    Zeta ZA500型美國(guó)MAS ZetaAcoustic ZA500電位分析儀

    更新時(shí)間：2020-05-11

    型號(hào)：Zeta ZA500型

    瀏覽量：1801

    美國(guó)MAS ZetaAcoustic ZA500電位分析，應(yīng)用科學(xué)公司發(fā)明電動(dòng)聲波振幅（ESA）技術(shù)用于高百分比之固體 Zeta 表面測(cè)量。MAS將其*的專(zhuān)業(yè)知識(shí)應(yīng)用在 Zeta 電位和粒度分析儀器的設(shè)計(jì)，使其成為 MAS很強(qiáng)而有力的發(fā)明Zeta電位量測(cè)儀。
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  • 美國(guó)MAS 超聲法納米粒度儀
    美國(guó)MAS 超聲法納米粒度儀

    更新時(shí)間：2020-11-25

    型號(hào)：

    瀏覽量：2631

    美國(guó)MAS 超聲法粒度儀及Zeta電位儀$n采用專(zhuān)門(mén)的電動(dòng)聲波振蕩技術(shù)，該儀器可完成非凡的電動(dòng)測(cè)量結(jié)果，從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限，該儀器可同時(shí)測(cè)量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測(cè)量時(shí)甚至可以進(jìn)行滴定操作；
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  • APS100型美國(guó)MAS高濃度納米粒度儀
    APS100型美國(guó)MAS高濃度納米粒度儀

    更新時(shí)間：2020-04-14

    型號(hào)：APS100型

    瀏覽量：2268

    美國(guó)MAS高濃度納米粒度儀 APS 從聲衰減光譜測(cè)量產(chǎn)生PSD數(shù)據(jù)，不需要稀釋樣品。APS還測(cè)量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、pH、電導(dǎo)率和溫度。
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  • ZetaAPS型美國(guó)MAS納米粒度及Zeta電位分析儀
    ZetaAPS型美國(guó)MAS納米粒度及Zeta電位分析儀

    更新時(shí)間：2020-05-08

    型號(hào)：ZetaAPS型

    瀏覽量：2689

    美國(guó)MAS納米粒度及Zeta電位分析儀,可以測(cè)試：粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等。 此儀器容易使用、測(cè)量精確。對(duì)于高達(dá)60%（體積）濃度的樣品，也無(wú)需進(jìn)行稀釋或樣品前處理，即可直接測(cè)量甚至對(duì)于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測(cè)量的材料都可直接進(jìn)行測(cè)量。
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  • CHDF3000型美國(guó)MAS高分辨納米粒度儀
    CHDF3000型美國(guó)MAS高分辨納米粒度儀

    更新時(shí)間：2025-06-18

    型號(hào)：CHDF3000型

    瀏覽量：2901

    美國(guó)MAS高分辨納米粒度儀高分辨率粒度分布（PSD）測(cè)量 新的技術(shù)，包括顆粒檢測(cè)高靈 敏度、動(dòng)態(tài)范圍和納米顆粒優(yōu)化分析。粒子分餾的真實(shí) PSD 數(shù)據(jù)。無(wú)需對(duì)粒徑分布的形狀進(jìn)行假設(shè)。
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  • AREPA型美國(guó)MAS在線檢測(cè)粒度分析儀
    AREPA型美國(guó)MAS在線檢測(cè)粒度分析儀

    更新時(shí)間：2020-04-09

    型號(hào)：AREPA型

    瀏覽量：2107

    美國(guó)MAS在線檢測(cè)粒度分析儀 在線粒度測(cè)量，工業(yè)加工狀態(tài)，不必稀釋樣品經(jīng)硬件設(shè)計(jì)可全（24 hours/7 days） 候運(yùn)作，無(wú)需移動(dòng)部件實(shí)時(shí)控制的快速測(cè)量
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